Microscopul electronic de baleiaj HITACHI S2600N permite analiza imaginii cu electroni secundari (SEI) până la o rezoluţie de 4.0 nm (la 25kV în vid înaintat), domeniul de mărire 15x – 300.000x și tensiunea de accelerare 0,5kV – 30kV. Analiza imaginii cu electroni retroîmprăştiaţi (BSE) se realizează cu o rezoluţie de până la 5.0 nm (la 25kV în presiune variabilă), domeniul de presiune 1-270 Pa și domeniul de mărire 15x – 300.000x. Microanaliza calitativă și cantitativă se realizează prin spectrometrie de raze X dispersivă în energie (EDS).