Microscopul electronic de baleiaj pentru imagistică de înaltă rezoluție Inspect F50
Microscopul electronic de baleiaj pentru imagistică de înaltă rezoluție Inspect F50 este echipat cu o sursă de electroni cu emisie în câmp tip Schottky, oferind înalte performanțe de imagine şi analiză în investigarea probelor.
Microscopul electronic de baleiaj pentru imagistică de înaltă rezoluție Inspect F50
Microscopul electronic de baleiaj pentru imagistică de înaltă rezoluție Inspect F50 este echipat cu o sursă de electroni cu emisie în câmp tip Schottky, oferind înalte performanțe de imagine şi analiză în investigarea probelor. Combinația dintre platforma cu cinci axe de fixare a probei, complet automatizată, cu înclinare eucentrică, și un curent de probă stabil (de minim 200 nA, ajustabil), fac din acest echipament un instrument ideal pentru analize pentru colectarea automată pe o durată scurtă și lungă de timp a semnalului provenit de la detectorul EDS (pentru analiză și mapping). Principalele aplicații ale acestui instrument fac referire la nano-caracterizarea de metale și aliaje, oxidări/coroziuni, fracturi în probă, secțiuni polizate, materiale magnetice și supraconductoare, materiale ceramice, compozite și mase plastice, filme/acoperiri, secțiuni geologice, minerale, materiale moi precum polimeri, produse farmaceutice, filtre, geluri, țesuturi, precum și particule, materiale poroase, fibre. Sursa de electroni, tunul, micoscopului Inspect F50 este cu emisie în câmp tip Schottky, tensiunea maximă de accelerare fiind controlată software (de la minim 200 V la maxim 30 kV).




Solicită acces
Completează formularul și obține accesul rapid și facil pentru proiectul tău.